أكسفورد 700 Series Copper Thickness Measuring Instrument CMI700

ميزات المنتج:

1. قياس متكامل لسمك النحاس النحاس والنحاس السطحي, مريحة وفعالة من حيث التكلفة
2. طريقتين, المقاومة الصغيرة والتيار الدوامة, تستخدم لقياس بدقة سمك النحاس السطحي والنحاس الفتحة
3. نظام القياس له براعة عالية وقابلية للتوسع, وتوافقها مع تحقيقات متعددة تلبي متطلبات التطبيق المختلفة, بما في ذلك النحاس السطح, ثقب النحاس. في نفس الوقت, CMI700 لديه وظائف إحصائية متقدمة لتنظيم وتحليل بيانات الاختبار.
4. تطبق تحقيقات سلسلة SRP-4 تقنية اختبار المقاومة الصغيرة المتقدمة. عند القياس, يمكن الحصول على قيمة السماكة بدقة وموثوقية من خلال علاقة الوظيفة بين قيمة السماكة وقيمة المقاومة, دون أن تتأثر بسمك طبقة لوحة العزل أو طبقة النحاس على الجزء الخلفي من لوحة الدائرة المطبوعة. مسبار SRP-4, التي يمكن استبدالها بالمستخدمين أنفسهم, هو منتج حاصل على براءة اختراع لأدوات أكسفورد. يمكن استبدال التحقيق المفقود بسرعة وسهولة في الموقع, تقليل وقت التوقف. استبدال وحدة التحقيق أكثر اقتصادا بكثير من استبدال المسبار بأكمله.

 

CMI 700 يشمل التكوين:

CMI 700 الجهاز والشهادة

SRP-4 مسبار

SRP-4 Probe Probe Module (1 وحدة)

معايير وشهادات المعايرة المعتمدة من NIST

ملحق اختياري: ETP Hole Copper Probe

 

المعلمات الفنية لمسبق النحاس السطح RP-4:

نطاق قياس سمك النحاس:

النحاس الكيميائي: 10 μ في -500 μ في (0.25 مم -12.7 مم)

النحاس الكهربائي: 0.1 ميل 6 ألف (2.5 M M-152 M M)

نطاق عرض خط خط النحاس القابل للاختبار: 8 MIL-250 ألف (203 مم -6350 مم)

دقة: ± 1% (± 0.1 مم) القسيمة القياسية المرجعية

دقة: النحاس الكيميائي: الانحراف المعياري 0.2%; النحاس الكهربائي: الانحراف المعياري ل 0.5%

دقة: 0.01 ميلز ≥ 1 ميل, 0.001 ميلز<1 ميل,

0.1ميكرومتر 10μm, 0.01ميكرومتر < 10ميكرومتر, 0.001ميكرومتر < 1ميكرومتر

 

المعلمات الفنية لمسبقة ETP Hole Copper Probe :

تم اختبار الحد الأدنى قطر الثقب: 35 ميلز (899 مم)

نطاق سمك القياس: 0.08-4.0 ميلز (1-102 مم)

مبدأ الدوامة الحالي: الامتثال للأحكام ذات الصلة بمعيار ASTM-E376-96

دقة: ± 0.01 ميل (0.25 مم), متى <1 ميل (25 مم)

دقة: 1.0% تحققت في 1.2 ميل (30 مم) في ظل ظروف المختبر

دقة: 0.01 ميلز